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CDW-3000S-DT  激光平面干涉儀 歡迎來電:021-39530106

 

CDW-3000S-DT激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設備。它基于菲索干涉原理,通過分析干涉條紋來確定光學表面面形。該設備集成了先進的光學、機械和電子技術,具有不損傷被測物品、測量精度高、測量時間短的特點;實現(xiàn)了對準光路和成像光路的電子切換,方便了用戶的使用。

CDW-3000S-DT可以用于檢測高精度光學元器件、光盤、硬盤等,適用于車間加工過程的在線檢測,可整盤檢測。在科學研究、精密器件加工、光學零件測試等領域有著廣泛的應用。  

CDW-3000S-DT主要技術指標

技術指標

參數(shù)值

測量原理

菲索干涉原理

顯示方式

CCD顯示

標準參照鏡面形精度

P-V:λ/10

光源

He-Ne激光器

波長

632.8nm

最大測量口徑

Ф300mm

電源

AC210~230V 50~60Hz

最佳工作溫度

20~25℃

外形尺寸

500×600×1200mm

質量

約150kg

配置清單

序號

型號、規(guī)格、名稱

數(shù)量

1

CDW-3000S-DT激光平面干涉儀主機

1

2

氦氖激光電源

1

3

高精度機械調節(jié)架

1

4

標準Ф300mm光學平面樣板

1

5

DELL計算機

1

6

14″液晶顯示屏

1

 

 

一 ,主要數(shù)據(jù)

  1. 第一標準平面(A面),不鍍膜。工作直徑:D1=φ285mm不平度小于0.05um
    2.第二標準平面(B面),不鍍膜。工作直徑:D2=φ285mm 不平度小于0.08um
    3.準直系統(tǒng):孔徑F/2.8,工作直徑:D0=φ285mm 焦距:f=400mm
    4.測微目鏡:焦距f=16.7mm,放大倍數(shù)β=15X,視場角2W=40°,成像物鏡:1.D=4.5 II.D=7 III.D=10 F=15 f=23 f=37
    5.工作波長:632.8nm
    6.干涉室尺寸:深400寬500*400mm。
    7.光源規(guī)格:激光ZN18(He-Ne)。
    8.儀器的外形尺寸:長*寬*高 500*600*1200mm
    9.儀器重量:150公斤
上海思長約光學儀器有限公司 

電話:021-39530106   69582899 13818629801     傳真:021-69588101    郵箱: [email protected]